交叉式光路光谱仪，即交叉式切尼-特纳（Czerny-Turner，简称C-T）光路光谱仪

交叉式光路光谱仪的工作原理

将光源发出的复色光按照不同的波长分离出来，配合各种光电探测器件对谱线强度进行测量，获得光谱功率（辐射）分布，再计算出色品坐标、色温等相关参数。

交叉式光路光谱仪的构成

光源：提供需要测量的光信号。

入射狭缝：光线通过狭缝进入光谱仪，限制了光束的宽度，有助于提高测量的分辨率。

柱面镜（入射镜）：将来自光源的光线聚焦到一个点上，聚焦后的光束照射到光栅上。

光栅：光线经过光栅时发生衍射，不同波长的光以不同的角度被折射。光栅的线密度影响光谱仪的分辨率和可测量的波长范围。

狭缝：位于光栅之后，只允许特定角度的光线通过，进一步过滤掉其他角度的散射光线，影响光谱仪的分辨率和灵敏度。

柱面镜（出射镜）：将经过光栅衍射的光线重新聚焦，投射到检测器上。

检测器：接收并测量聚焦后的光谱信息，将光信号转换为电信号，从而得到光的频谱分布。

关键部件的参数对测量系统有显著影响

光栅参数：包括光栅片的线密度和工作角度，影响分辨率和工作波长范围。

狭缝参数：影响分辨率和灵敏度，较窄的狭缝提高分辨率但降低灵敏度。

柱面镜参数：影响光线的聚焦效果和传输效率，曲率半径和折射率是关键。

滤光片参数：透过率和波长范围决定了光谱仪的选择性和测量对象。

交叉式光路光谱仪的应用领域：

微型光谱仪：由于交叉式光路的紧凑性，它非常适合用于微型光谱仪的设计，这些光谱仪可以集成到便携式设备中，用于现场快速光谱分析。

高灵敏度测量：交叉C-T型光路因其结构特点，可以提供较高的灵敏度，适用于需要高灵敏度检测的应用场景。

光学性能优化：交叉式C-T光路在光学性能上，如球差、像散、慧差等方面，具有一定的优化优势，适用于对光学性能有特定要求的测量。

杂散光控制：在需要控制杂散光的应用中，可以通过设计优化来提高光谱仪的性能，交叉式C-T光路在杂散光控制方面具有一定的优势。

科研和教育：交叉式光路光谱仪也常用于科研和教育领域，用于光谱分析教学和实验研究。

工业过程监控：在工业生产过程中，交叉式光路光谱仪可用于实时监测材料的成分和质量。

环境监测：环境领域中，交叉式光路光谱仪可用于分析大气污染物、水质等，以评估环境状况。

材料分析：在材料科学中，交叉式光路光谱仪可用于分析材料的化学成分和结构特性。

生物医学研究：在生物医学领域，交叉式光路光谱仪可用于研究生物分子的光谱特性，以及在临床诊断中的应用。