夏克-哈特曼（Shack-Hartmann）CMOS 波前传感器是一种用于测量光波前畸变的光学仪器。

夏克-哈特曼CMOS波前传感器

测量能力方面 

- 宽光谱覆盖：可覆盖从紫外（157nm-400nm）、可见近红外（400-1064nm）、短波红外（900-1700nm）、中波红外（2-5.4μm）到长波红外（8-14μm）的超宽光谱范围，适用于多波长测量。

- 多种测量对象与场景：能实现轴上和轴外波前测量，可扫描全视场以及进行多视场同时测量；可测量圆形、椭圆形、带中心遮拦（中心孔）、六边形等多种出瞳形状的波前；不受测量口径限制，若扩束系统受限，用准直物镜确保与传感器NA匹配即可。

- 大动态范围测量：如上海交大团队研发的具有全局光斑自适应匹配能力的大动态范围夏克-哈特曼波前传感方法，能够实现局部斜率达到传统极限24.17倍的波前测量能力，对于由第3至9项Zernike多项式所表征的波前，测量能力达到传统极限的5.84倍至16.21倍。

性能方面 

- 高灵敏度：可以高精度地测量波前畸变，对微弱的波前信号也能有很好的响应，能够捕捉到波前的微小变化。

- 高分辨率：CMOS图像传感器的像素阵列可以提供较高的空间分辨率，结合夏克-哈特曼技术，能精确地测量波前的细节信息。

- 快速响应：具有较快的波前采集频率，例如意大利SpotOptics的产品较高速波前采集频率达到8000Hz，可应用于分析ms级响应的液体镜头，能够实时显示测量结果，适用于对快速变化的波前进行实时监测和分析。

- 抗干扰能力强：作为一种非干涉波前测量技术，相比一些干涉式波前传感器，夏克-哈特曼CMOS波前传感器受环境干扰（如振动、气流等）的影响较小，能够在较为复杂的环境中稳定工作。

系统集成与应用方面 

- 灵活的光路配置：提供Single Pass、Double Pass等多种测量光路，以满足不同的应用要求。

- 结构紧凑：例如IOPTINO系列波前传感器+电子自准直仪双通道的结构，尺寸仅150x100x50mm，重量400g，便于集成到各种光学系统中，节省空间且易于安装和调试。

- 易于集成：CMOS图像传感器具有良好的兼容性和集成性，可方便地与其他光学元件、电子设备以及控制系统集成，组成完整的自适应光学系统或其他光学测量系统。

- 多功能应用：可用于激光光束波前及光束质量分析、天文望远镜共位相误差测量、主动光学系统、自适应光学系统、光学元件均匀性测量、非球面测量、非破坏性光学元件折射率测量等多种应用场景。

夏克-哈特曼CMOS波前传感器欢迎咨询长春博盛量子，0431-85916189